精密平板的檢驗(yàn)方法有很多，常見的有以下兩種：

1、用刀口尺在精密平板的四個(gè)方向上檢查，此種方法適合于檢驗(yàn)規(guī)格比較小的精密平板，它通過透光法觀看間隙或用塞尺得出偏差數(shù)據(jù)。

2、用合像水平儀（即光學(xué)水平儀）在精密平板均勻分布的各個(gè)點(diǎn)上依次測量，也可測得精密平板平面性的情況。

以上兩種方法，前者限于檢驗(yàn)規(guī)格較小的精密平板，且讀數(shù)精度不高，后者測量和計(jì)算方法比較復(fù)雜，耗費(fèi)檢驗(yàn)平時(shí)比較多。